Método para obtener puntas sensoras de microscopía de fuerza atómica funcionalizadas mediante silanización por vapor activado, y las puntas obtenidas por dicho método.


Tabla resumen
 Institución: UPM Tipo: Patente
 Ámbito: Nacional Año de inicio: 2019
 En operación:   de propiedad: 100,00 %
 Núm. de miembros: 3