STUDY OF DEGRADATION/FAILURE MECHANISMS IN GAN BASED HEMT FRO GAS-SENSOR APPLICATIONS


Tabla resumen
 Institución: UPM Tipo: Transferencia
 Ámbito: Autonómico Duración: 28/06/2011 - 01/01/2018
 Miembros: 1 IP: Hombre
 Fondos: 29361,47 Descripción: Autonómico
Miembros